Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng
Свернуть Развернуть
Стенд измерительный FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального к...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17HF-768 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, которая осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд измерительный FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального к...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17DT-256 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд измерительный FT-17MINI-9U предназначен для контроля и измерения электрических характеристик ц...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17MINI-9U представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд измерительный FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифр...
Sovtest (Россия)
Стенды FT-17MINI представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной...
Teradyne
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы,...
Система MicroFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной...
Teradyne
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы,...
Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со...
Teradyne
Принцип действия системы J750Ex-HD основан на методах функционального и параметрического контроля.
Для проведения функционального контроля на измеряемую микросхему подается входной набор сигналов, при этом выходной набор сигналов от объекта контроля...

 Совтест разрабатывает и производит Тестеры цифровых микросхем.

Тестер микросхем предназначен для функционального и параметрического контроля интегральных схем (ИС) различной степени интеграции. Начиная от микроконтроллеров до ASIC (специализированные микросхемы), включая микросхемы памяти, ЦАП, АЦП, а так же смарт-карты, RFID и т.д.

Формула успеха тестеров микросхем Совтест - это платформа, позволяющая расширять (наращивать) измерительные возможности тестера и видоизменять его при появлении новых потребностей пользователя к контролю компонентов.

Отличительной особенность тестеров микросхем является отсутствие каких-либо форм мультиплексирования измерителя, как это реализовано в тестерах микросхем других производителей. Формула проста: канал тестера представляет собой отдельное от других каналов измерительное устройство (pin-электроника или измеритель-на-канал), позволяющее в режиме реального времени менять настройки и контролировать параметры на каждом выводе тестируемой микросхемы. Как говорится в старой политической формуле: «Разделяй и властвуй».
Отправить запрос