Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Sovtest (Россия)

Модель TR-17VIP – это комбинированная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей в производстве.

Функциональные возможности:
  • внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов, включая согласование обмоток, установленных микросхем по входным защитным диодам, качества пайки микросхем емкостным методом и т.д.
  • внутрисхемное цифровое тестирование: контроль цифровых микросхем на соответствие таблице истинности. Для исключения влияния параллельно установленных микросхем (например при наличии шинной технологии) на вход тестируемой микросхемы подаются импульсы большого тока с ограниченной длительностью (backdriving - принудительный перевод логики в нужное логическое состояние).
Максимальное количество гибридных тестовых каналов (аналоговых/цифровых) системы - 1536 (с шагом, кратным 64). Система может работать с пиновыми адаптерными устройствами типа «поле контактов» (bed-of-nails) различных конструкций - механическими, пневматическими и вакуумными.

В тестер по модульному принципу могут быть добавлены функциональные модули источников питания, генераторов частоты, программируемых резистивных нагрузок, счетчика импульсов, контроллера динамического цифрового тестирования, а также дополнительные мультиплексирующие, релейные и цифровые модули.

Для функционального тестирования, к тестовой системе, через дополнительный модуль IEEE 488, можно подключить внешние приборы, обеспечивающие наибольшую точность измерений – блоки питания, генераторы, частотомеры, осциллографы, мультиметры и другие. Это позволяет объединить их в единый программно-аппаратный комплекс.

Поставляемое с системой Модель TR-17VIP программное обеспечение VIVA работает под управлением операционных систем Windows 7 или Windows XP.

Специализированное программное обеспечение тестера имеет модульную структуру и включает в себя:
  • генератор тестовых программ и библиотек для аналогового внутрисхемного тестирования,
  • генератор тестовых программ для тестирования КЗ/обрывов,
  • модули DGT и DIG для внутрисхемного цифрового тестирования, включая набор библиотек компонентов,
  • модуль функционального программирования;
  • модуль накопления и обработки статистики,
  • модуль самодиагностики;
  • трансляторы из систем САПР и т.д.
Смежные продукты
image
Модель Compact TK– это адаптерная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей в производстве.
Seica
image
Модель Compact SL – это встраиваемая в производственную линию тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей при крупносерийном и массовом производстве.
Seica
Адаптерная тестовая система для аналогового и цифрового внутрисхемного тестирования модель Compact TK
Отправить запрос