Предлагаем ознакомиться в тезисной форме с кратким обзором и ключевыми положениями одного из основных докладов второго дня международной практической конференции «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники», которая проходила с 24 по 25 октября на заводе Совтест АТЕ - «Датчики и Системы» в городе Курске.
Контроль качества изделия - это контроль его параметров и работоспособности с помощью различных приборов. Каким образом оптимально решить эту задачу для многономенклатурного производства электроники, уйти от человеческого фактора при этом снизив затраты на проверку каждого изделия. В презентации рассмотрены преимущества и недостатки методов, применяемых на данный момент, а также предложено решение задач контроля качества от Совтест АТЕ.
