Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

30-08
2017
Измерительные стенды для больших и сверхбольших интегральных схем J750Ex-HD внесены в Госреестр средств измерений

ООО «Совтест АТЕ» получило официальное свидетельство об утверждении типа средств измерений для измерительных стендов БИС и СБИС J750Ex-HD. Государственный документ выдан Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии. 


Система J750Ex-HD (США) предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции VLSI (Very-Large-Scale Integration) от микроконтроллеров до интегральных схем специального назначения ASIC (Application-Specific Integrated Circuit). Используется для контроля параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе. 

Отправить запрос