Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

29-10
2018
Делимся опытом. Результаты конференции «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники»

В период с 24 по 25 октября на заводе «Совтест АТЕ» прошла международная конференция «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники», в ходе которой специалисты предприятия продемонстрировали, как организована система качества на предприятии, какое для этого используется оборудование и какие применяются стратегии тестирования. 

В качестве экспертов на конференции выступили также представители зарубежных компаний Seica S.p.A (Италия), Goepel (Германия): 
  • Antonio Grassino – Президент компании Seica;
  • Alessandro Beiletti – специалист по продвижению, Seica;
  • Andrea Romano – технический специалист, Seica;
  • Steffen Kamprad – Goepel (Германия).
Участниками конференции стали представители многих российских предприятий, среди которых АО «Завод Элекон», АО «НИИ «Экран», Научно-производственное предприятие ЭКРА, АО «ПКК Миландр», ПАО «Компания «Сухой», «Информационные спутниковые системы имени академика М.Ф. Решетнёва» и другие.

По традиции на открытии мероприятия выступил генеральный директор ООО «Совтест АТЕ» Игорь Марков.


Конференция включала в себя как теоретическую, так и практическую части. Участники конференции получили возможность лично ознакомиться с новинками тестового оборудования от всемирно известных производителей – Seica (Италия), Goepel (Германия), Microcraft (Япония), JUKI (Япония), а также с собственными разработками «Совтест АТЕ».
Так Alessandro Beiletti поделился опытом компании Seica в части внутрисхемного тестирования применительно к контрактному производству на примерах таких крупных предприятий, как FoxConn, Jabil и др.; Andrea Romano рассказал о внутрисхемном тестировании применительно к контролю изделий спецтехники с использованием тестеров Pilot V8 на предприятиях Thales, Raytheon, Alcatel.


На слайде представлена главная идея презентации специалистов Seica - оптимальная стратегия тестирования для большинства производств РФ (большая номенклатура при небольшой серии). В технологической цепочке производства необходимо использовать следующее тестовое оборудование: автоматическая оптическая инспекция (AOI), тестер с подвижными пробниками для внутрисхемного контроля и тестовая система для функционального контроля. Pilot V8 в данном случае выполняет выборочный внутрисхемный контроль изделий, поступающих с AOI. Однако, его главная задача – локализация неисправностей на компонентном уровне. То есть ремонт изделий, забракованных на функциональном контроле. По представленной специалистами Seica информации применение такой технологии позволяет быстро восстановить примерно 70 – 80% не прошедших функциональный стендовый контроль изделий.

В продолжение конференции - президент компании Seica - Antonio Grassino рассказал о современной философии внутрисхемного тестирования  с применения систем с подвижными пробниками. Такая философия уже реализована и эффективно используется на нескольких крупных зарубежных промышленных объедениях (Foxconn, Quanta computer и др.). В основе данной философии лежит следующий смысл: разделять поставленные задачи, и не дублировать процессы на применяемом для контроля качества оборудовании. Т.е. если говорить о тестовом оборудовании, различные методы могут перекрывать друг-друга в какой-то степени и нет необходимости их дублировать. Необходимо задействовать каждый метод по своему специализированному назначению. Такой подход снизит как финансовые, так и временные ресурсы.



В рамках практической части конференции наши специалисты совместно с иностранными коллегами продемонстрировали специальные возможности тестера с подвижными пробникам Pilot V8 NEXT для внутрисхемного и функционального электроконтроля. Демонстрация создания в режиме реального времени тестовой программы на тестовой системе, установленной на производственном участке завода «Совтест АТЕ» стала наиболее интересной для большинства участников конференции. 


Для слушателей конференции специалист Seica - Andrea Romano представил информацию об опыте функционального контроля  на машинах Pilot V8 NEXT следующих сложных компонентов:

  • AD5060 (16-Bit nanoDAC™ SPI Interface)
  • TI DS90UB953-Q1 (FPD-Link III SerDes w/ CSI-2 interfaces for 2.3MP/60fps cameras)
  • MAX1618MUB (Remote Temperature Sensor with SMBus Serial Interface)
  • DS1775 (Digital Thermometer and Thermostat)
  • ADS8345 (16-Bit, 8-Channel Serial Output ADC) 
Интересная информация для слушателей конференции была предоставлена Steffen Kamprad из немецкой фирмы Goepel. Стефан презентовал новейшую систему JTAG тестирования серии CUBE II. Особенностью  данной системы является поддержка работы с частотой тестирования 100 МГЦ.  Ближайшим конкурентам такой уровень не доступен. Были продемонстрированы методы увеличения тестового покрытия тестируемого модуля за счет применения дополнительных модулей расширения. 

В отличии от конкурентов, Goepel предлагает расширенной набор дополнительных инструментов для обеспечения максимального тестового покрытия и удовлетворения всех требований Заказчиков. Доказательством этому служит внушительный портфель заказчиков. Среди них такие бренды как, Bently, BMW, Merсedes, Bosh, Ford, Porsche, AUDI, Lamborghini, Airbus, Siemens, Miele, Hella, Intel и др.

Отправить запрос