Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

21-08
2013
Новая серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON

 

Президент корпорации Nikon (Япония) мистер Makoto Kimura официально объявил о новой серии объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов. Новые объективы CFI60-2 обладают повышенной устойчивостью к хроматическим аберрациям (искажениям), а также имеют большие рабочие расстояния1 по сравнению с объективами серии CFI60.

 

ИСТОРИЯ РАЗВИТИЯ

Микроскопы давно используются в различных областях промышленности для контроля  производства полупроводниковых изделий, электронных компонентов, жидкокристаллических панелей, а также для анализа различных дефектов и материалов.


Поскольку разные образцы наблюдаются с использованием различных микроскопических методов, микроскопы становятся совершеннее и сложнее. Неизменными остаются требования, предъявляемые к оборудованию: простота эксплуатации и высокие оптические характеристики.

Для удовлетворения этих требований компания Nikon разработала новую серию объективов CFI60-2. Они обладают высокими оптическими характеристиками, имеют большее рабочее расстояние и обеспечивают великолепное качество наблюдаемой картинки.

1Рабочее расстояние (WD)- это расстояние от конечной точки объектива до начальной точки исследуемого образца. Большое рабочее расстояние позволяет избежать повреждений исследуемого объекта и объектива.
 

Отправить запрос