Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

31-07
2013
ООО «Совтест АТЕ» представило Россию на конференции Nordic Test Forum-2011

ООО «Совтест АТЕ» стало единственным российским производителем оборудования, принявшим участие в прикладной конференции Nordic Test Forum-2011 (NTF), которая прошла с 22 по 23 ноября в городе Туусал (пригород Хельсинки, Финляндия). Организаторы NTF-2011 пригласили специалистов компании выступить с докладом и рассказать о своих решениях в области функционального тестирования. Стоит отметить, что участие в мероприятиях подобного уровня является лучшим подтверждением высокого статуса компании и востребованности ее продуктов на международном рынке.

На сегодняшний день NTF признана ведущей европейской конференцией, посвященной тестированию аналоговой и цифровой продукции. В числе ее постоянных участников – крупнейшие разработчики и производители тестового оборудования с мировым именем, такие как: National Instruments, Teradyne, Marvin Test Solutions, Goepel electronics, Seica, JTAG Technologies и др. Мероприятие проходит ежегодно под эгидой NTF – сообщества специалистов из северных стран Европы, специализирующихся в области тестирования электроники – и на протяжении последних 10 лет объединяет лучших инженеров по тестированию, разработчиков аппаратуры и поставщиков тестового оборудования.

В ходе своего выступления представители ООО «Совтест АТЕ» поделились с участниками NTF-2011 своим опытом в области разработок и поставок тестового оборудования (а это более 20 лет) и рассказали о последних новинках. На сегодняшний день компания выпускает широкий спектр оборудования для проверки качества и надежности сложной электроники. В их числе – Комплекс измерительный FT-17 для функционального и параметрического контроля электронных модулей, позволяющий проводить полный контроль параметров сложной электроники, а так же локализатор неисправностей электронных модулей на компонентном уровне SFL-3000, который позволяет достаточно легко определить место неисправности и тем саамы помочь в ремонте печатной платы.

Комплекс измерительный для функционального контроля модулей и компонентов FT-17

Также, учитывая  стремительное развитие микроэлектроники, большой интерес со стороны заказчиков проявляется к тестеру микросхем FT-17 HF – последняя разработка специалистов «Совтест АТЕ». Данная система идеально подходит для полного функционального, параметрического и динамического контроля и исследования интегральных микросхем широкой номенклатуры и является незаменимой при производстве микроэлектроники и при проведении сертификационных испытаний элементной базы.

Тестер функционального и параметрического контроля широкой номенклатуры БИС FT-17HF


Таким образом, участие ООО «Совтест АТЕ» в конференции Nordic Test Forum-2011 подтвердило востребованность решений, предлагаемых компанией, а также позволило ее специалистам обменяться опытом и знаниями с ведущими иностранными производителями тестового оборудования, что в дальнейшем будет способствовать появлению еще более инновационных разработок.

Отправить запрос