Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

02-04
2012
ООО «Совтест АТЕ» приглашает на открытый семинар «Передовые новинки в области высокоточных технологий»

ООО «Совтест АТЕ» приглашает всех желающих посетить открытый семинар «Передовые новинки в области высокоточных технологий», который пройдет в рамках 15-ой международной выставки электронных компонентов и комплектующих «ЭкспоЭлектроника-2012». Мероприятие состоится 12 апреля в 11:00 в третьем конференц-зале (зал 3, павильон 1, МВЦ «Крокус Экспо», Москва). Участники семинара получат уникальную возможность обменяться опытом с коллегами, узнать о перспективных новинках от ведущих специалистов электронной индустрии и найти оптимальные решения для своих производственных задач.

Во время семинара вниманию посетителей будут предложены доклады на следующие темы:
1. Новые возможности автоматов для установки SMD-компонентов фирмы JUKI, Япония.
Данный доклад будет посвящен новым сериям высокопроизводительных и компактных установщиков компонентов разработки и производства фирмы JUKI. Особое внимание будет уделено дополнительным возможностям оборудования, делающим процесс сборки еще более легким и бездефектным. Решения JUKI, крупнейшего производителя технологического оборудования, заслужили признание потребителей со всего мира, что доказывает их эффективность, надежность и востребованность.
2. Беспроводные сенсорные системы на основе МЭМС. Опыт разработки и производства высокоточных МЭМС-компонентов в России (акселерометр и инклинометр).
В докладе будут рассмотрены наиболее актуальные для отечественного рынка инновационные направления, открывающие новые возможности для современной электроники и имеющие широкую область применения. Также будут приведены первые практические результаты российских специалистов в области разработки и производства высокоточных изделий на основе МЭМС и на конкретных примерах продемонстрированы их преимущества.
3. Новый этап развития отечественных контрольно-измерительных систем: тестер FT-17HF производства ООО «Совтест АТЕ».
Основной темой доклада станет новейшая разработка специалистов «Совтест АТЕ» – тестер микросхем FT-17HF для функционального, параметрического и динамического контроля микросхем широкой номенклатуры. В настоящий момент оборудование по своим характеристикам не имеет аналогов отечественного производства и практически не уступает зарубежным системам, что потенциально обеспечивает ей широкий спрос на российском рынке.
 


12 апреля     11:00     Конференц-зал №3
По всем вопросам участия в семинаре Вы можете обращаться по единому бесплатному номеру 8 800 200 54 17.
Будем рады видеть Вас на нашем семинаре!


Схема расположения конференц-залов, МВЦ «Крокус Экспо»

Отправить запрос