Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

01-12
2014
Применение цифрового микроскопа ShuttlePix P-400Rv от Nikon (Япония)

Этот портативный цифровой микроскоп имеет стильный и компактный дизайн, отлично подходит для работы непосредственно на производственном участке. Оригинальная конструкция позволяет значительно проще проводить удаленный контроль крупных образцов.

Встроенная подсветка и съемный аккумулятор позволяют работать без коммутационных проводов и вне помещения до 2-х часов, а SD-карта позволяет быстро переносить готовые снимки на персональный компьютер или ноутбук. Благодаря тому, что ShuttlePix работает примерно так же, как и компактная цифровая камера, для пользования им не требуется специального опыта работы с микроскопом, что позволяет применять его в различных сферах деятельности: авиация, космос, автомобилестроение, искусство, ТЭК, археология и т. п.

Технические характеристики микроскопа ShuttlePix P-400Rv:

Разрешение

2 Мегапикселя

Матрица

ПЗС: 1/1.8» цветная

Частота кадров: 28fps(800×600)

Оптика

Увеличение: 3x- 60xна встроенном ЖК с диагональю 2,7»,

коэффициент трансфокации 20:1

Фокусное расстояние

29 мм

Поле зрения

Диагональ поля зрения 20 мм (16 мм x12 мм)

Подсветка

Источник: светодиодное 8-сегментное кольцо

Направление: Эпископическая, вокруг встроенного объектива

Область подсветки: ø20 мм, 8-сегментное светодиодное кольцо (сверху/снизу/слева/справа)


Фотодокументирование

Хранение снимков: SD-карта памяти, SDHC-карта памяти (макс. 16 ГБ)

Размер снимков: 2M(1600×1200), 0.5M(800×600)

Формат видео

NTSC/PAL

Разъемы

Видео выход, видеозахват (ø3.5mm), специализированный разъем для подключения к моторизированной станине, разъем для удаленного управления

Питание

Li-ionАккумулятор/ACадаптер/Моторизированная станина

Аккумулятор: P-Li01 P-Li-Ion

Блокпитания: EA1050E-120 (опционально)

Время работы аккумулятора

Около 90 минут (при максимальной мощности и максимальной яркости подсветки)

Время зарядки

Около 4 часов (при полной разрядке)

Разъем для штатива

¼-дюйма (ISO 1222)

Вес

Около 1 кг (без батареи и SD-карты)

Уникальная конструкция, микроскопа ShuttlePix P-400Rv позволяет легко использовать его с различными видами станин: переносной, универсальной, моторизированной.

Переносная станина прекрасно дополняет микроскоп и раскрывает его функциональные возможности. Форма станины позволяет устанавливать ее практически на любых поверхностях под различными углами, заниженный центр тяжести делает её достаточно устойчивой на наклонных поверхностях, резиновые кольца на основаниях предохраняют от соскальзывания, а эргономичная ручка позволяет с легкостью переносить микроскоп от образца к образцу.

Переносная станина идеально подходит для использования микроскопа ShuttlePix P-400Rv в полевых условиях и на различных поверхностях, таких как:
— наклонные поверхности;
— неровные поверхности;
— трубы;
— поверхности больших образцов.

Общий вид микроскопаShuttlePixна станине

 

                                                        Шкала Нониуса позволяет проводить                     Фокусировочный узел позволяет 
                                                измерения по осям Xи Yс точностью 0,1 мм                 перемещать микроскоп по оси Zс 
                                                                                                                                                     диапазоном 55 мм

Характеристики переносной станины:

Характеристики переносной станины:

Вес станины (с микроскопом):

≈2 кг (≈3 кг)

Диапазон перемещений по оси Z:

55 мм

Диапазон измерений по осям X и Y:

20*20 мм (0,5 мм за оборот)

Примеры использования портативной станины:

                  
               Автомобильная промышленность                        Инспекция лакокрасочного покрытия

       
    Исследование дефектов лакокрасочного               Исследование дефектов лакокрасочного
     покрытия автомобиля. Увеличение 25х                   покрытия автомобиля. Увеличение 50х

      
                            Археология                                                  Инспекция бетонной стяжки

       
Трещина в бетонной стяжке. Увеличение 40х       Трещина в бетонной стяжке. Увеличение 60х

         
                Проверка микросхем                                               Поверхность печатной платы.
                   и 
печатных плат                                                              Увеличение 3х

   
                
Открытый корпус микросхемы.                                       Открытый корпус микросхемы. 
                           
Увеличение 40х                                                               Увеличение 60х

    
        Металлизированное сквозное отверстие.                                   Резьбовое отверстие.
                         
Увеличение 30х.                                                               Увеличение 3х.

   
 
           
Топливно-энергетический комплекс                               Инспекция труб и сварных швов

    
                Ко
ррозия поверхности труб.                                           Коррозия поверхности труб.
                          Увеличение 10х                                                               Увеличение 20х

    
                  Инспекция сварных швов.                                               Инспекция сварных швов.
                         
Увеличение 15х                                                              Увеличение 40х


Отправить запрос