Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

09-04
2013
Результаты участия ООО «Совтест АТЕ» в выставке NDT-2013

Специалисты «Совтест АТЕ» в очередной раз удивили посетителей выставки «NDT Russia – неразрушающий контроль и техническая диагностика в промышленности», представив на своем стенде уникальные решения. Наибольшее внимание привлекли возможности стереоскопического микроскопа SMZ800 фирмы Nikon (Япония) с установленным модулем наклонного наблюдения, который позволяет исследовать горизонтальные объекты под углом 30°. Об этой и других новинках – в кратком отчете о результатах участия «Совтест АТЕ» в выставке «NDT-2013».

В этом году ООО «Совтест АТЕ» уже в третий раз представило свой стенд на международной  специализированной выставке, посвященной неразрушающему контролю и технической диагностике «NDT-2013». Наряду с другими экспонентами, компания продемонстрировала наиболее актуальные решения, отвечающие тенденциям развития отрасли и запросам российских потребителей. Отличительной особенностью экспозиции «Совтест АТЕ» стало исключительное по своим возможностям оборудование, которое можно было не только увидеть в режиме реального времени, но и попробовать исследовать с его помощью собственные образцы прямо во время выставки.

Этим шансом воспользовалось большинство посетителей «NDT-2013». Так, например, чтобы провести анализ дефектов пайки или анализ поверхности изделия на стереоскопическом микроскопе SMZ800, пришлось занимать очередь. Неудивительно, ведь эта модель микроскопа в сочетании с модулем наклонного наблюдения и наклонным поворотным столиком обеспечивает большее количество степеней свободы по сравнению с аналогами. Интерес был проявлен и к другим разработкам специалистов Nikon: видеоизмерительной системе iNexiv VMA-2520, в отношении которой по результатам выставки был заключен договор о поставке, и портативному цифровому микроскопу ShuttlePix.

Итогом плодотворной работы на «NDT-2013» можно считать многочисленные образцы изделий посетителей мероприятия, которые были переданы для комплексного исследования на базе собственного производства «Совтест АТЕ» (см. рисунки ниже).

Результаты исследования цифровым микроскопом ShuttlePix

                       Результаты исследования рентгеноскопической системой XT V 160

Все желающие, не успевшие оценить преимущества оборудования для неразрушающего контроля фирмы Nikon или провести с его помощью пробное исследование своих образцов, могут сделать это на стенде «Совтест АТЕ» на выставке «ЭкспоЭлектроника-2013» (Павильон 1, зал 2, стенд Е 07). В работе с оборудованием Вам помогут технические специалисты «Совтест АТЕ», а также ответят на все интересующие Вас вопросы.

Знаете ли Вы?

Наличие собственного производства позволяет ООО «Совтест АТЕ» осуществлять на контрактной основе комплексное исследование образцов заказчиков, а также выполнять отдельные операции (автоматический оптический контроль, рентгеновский контроль, внутрисхемный контроль (анализ производственных дефектов), функциональный контроль).

 

Отправить запрос