Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

04-04
2019
«Совтест АТЕ» представит оборудование для тестирования и промышленных измерений на выставке «ExpoElectronica» 2019

15-17 апреля в «Крокус-Экспо» (Москва) состоится 22-я международная выставка электронных компонентов, модулей и комплектующих. В рамках выставочной экспозиции предприятие «Совтест АТЕ» представит Вашему вниманию передовое тестовое оборудование для электронной отрасли от всемирно известных производителей (Nikon, Seica S.p.A, Polar Instruments, Weetech, Goepel и др.), а также оборудование собственного производства направленное на решение таких задач, как: тестирование электронных модулей, локализация и ремонт изделий различной сложности, функциональный контроль, неразрушающий контроль, тестирование проводного монтажа, входной контроль ЭКБ.

Наши сотрудники продемонстрируют возможности оборудования на Ваших образцах (по предварительному согласованию) применительно к конкретным задачам. Демонстрацию работы оборудования будут проводить квалифицированные специалисты, обладатели соответствующих сертификатов обучения, ежегодно проходящие аттестацию и курсы повышения квалификации на заводах-производителях оборудования. 

Из оборудования для тестирования и промышленных измерений на стенде будут представлены: 
  1. Тестовая система с подвижными пробниками Pilot V8 (Seica, Италия);
  2. 3D система АОИ ISO-Spector M1A (Marantz Electronics, Япония);
  3. Тестеры микросхем FT-17MINI, FT-17DT (Совтест АТЕ, Россия);
  4. Инструментарий MINI80 (Seica)
  5. Стереомикроскоп SMZ1270 (Nikon, Япония);
  6. Цифровые микроскопы INSPECTIS (Inspectis Optical Systems, Швеция);
  7. Локализатор неисправностей SFL3500 (Совтест АТЕ, Россия);
  8. Локализатор мест коротких замыканий Toneohm 950 (Polar Instruments) 
  9. Измеритель рефлектометрический ИРС-35 (Совтест АТЕ, Россия);
  10. Оборудования для переферийного сканирования (JTAG) (Goepel, Германия); 
  11. Тестер проводного монтажа W434R (Совтест АТЕ);
  12. PXI  Шасси (Совтест АТЕ, Россия) и модули MarvinTest, Pickering, ADLINK, Teradyne;
  13. Тестовое решение на базе промышленного робота UR-5
Оборудование для внутрисхемного и функционального тестирования электронных модулей будет представлено новейшей системой для внутрисхемного и функционального электроконтроля с подвижными пробниками серии NEXT модель Pilot V8 (Seica, Италия) с возможностью автоматической загрузки/разгрузки электронных модулей. Оборудование имеет свидетельство об утверждении типа средств измерений, регистрационный номер 70890. Системы с подвижными пробниками последнего поколения позволяют выполнять полноценный внутрисхемный контроль, функциональное тестирование и ремонт электронных модулей. 

По итогам тестирования модулей вы будете уверены что:
  • Все компоненты установлены корректно и имеют точно соответствующие КД номиналы
  • На проверяемом изделии отсутствуют КЗ/Обрывы
  • Распределение температуры по изделию находится в  заданной норме
  • На проверяемом изделии отсутствуют контрафактные компоненты  (степень покрытия зависит от тестопригодности изделий)
  • Цифровые компоненты работают согласно таблице истинности
  • На изделии отсутствуют цифровые дефекты (такие как залипание в «0» или «1») и др. функциональные недочеты.

Кроме того, инструменты обратного проектирования позволят восстановить исходные данные на различные изделия без файлов САПР (включая принципиальную схему).

Отдельное место занимает оборудование для неразрушающего контроля – 3D система АОИ ISO-Spector M1A, стереоскопический микроскоп SMZ1270, цифровые микроскопы INSPECTIS

Флагман автоматической оптической инспекции японской фирмы Marantz Electronics (MEK) для контроля паяных соединений и 3D-SMT контроля ISO-Spector M1A.

Главной особенностью новой машины является метод автоматического программирования, который позволяет получать великолепные результаты автоматической оптической инспекции смонтированных печатных плат в максимально короткое время. Система АОИ ISO-Spector M1А оснащена новейшей технологией 3D-контроля, обеспечивающей полное всестороннее измерение и контроль высоты профиля, а также 25-ти мегапиксельным сенсором с размером поля зрения 69x69 мм, который является самым большим по сравнению с подобными системами. 3D система АОИ ISO-Spector M1А обеспечивает высокоскоростную проверку компонентов вплоть до 008004, выводов компонентов (ножек) и паяных соединений. Применение технологии муаровых проекций позволяет добиться высокоточных безтеневых измерений компонентов высотой до 30 мм. 

Для понимания структуры, формы, размеров, строения и многих других характеристик объектов незаменимым инструментом является стереоскопический микроскоп. Благодаря устройству оптической системы создается объемное восприятие объекта, что позволяет более прецизионно и качественно проводить контроль качества или ручную пайку. Имея лучший в своем классе диапазон трансфокации - 12,7х (0,63х - 8х), стереомикроскоп SMZ1270 также отличается большим диапазоном увеличения, чем предыдущие модели. Благодаря устройству оптической системы, при минимальном увеличении поле зрения доходит до 35 мм (при использовании объектива 1х и окуляров 10х).

Микроскопы INSPECTIS позволяют получать изображения непревзойденного качества, высокой четкости и контраста, с большим увеличением. По сравнению с другими системами визуального контроля микроскопы Inspectis требуют минимального времени для инспекции образцов. 

Ключевые особенности микроскопа Inspectis F30s:
  • Оптический зум 30:1, автофокус; 
  • Разрешение Full HD 1080 пикселей, 60 кадров/сек.;
  • Увеличение: стандартно 2,2-62,7х; опционально до 170х;
  • Модульный дизайн с различными штативами и аксессуарами;
  • Документирование результатов инспекции и измерений через программное обеспечение INSPECTIS.
Эффективные технологии для ремонта и локализации дефектов будут представлены локализатором мест коротких замыканий (КЗ) Toneohm 950 (Polar Instruments) и локализатором неисправностей SFL3500 (Совтест АТЕ).

На стенде «Совтест АТЕ» посетителям будут продемонстрированы уникальные возможности локализатора КЗ/обрывов Toneоhm 950:
  1. Технология бесконтактного контроля – локализация КЗ/обрывов на смонтированных электронных модулях и голых ПП/МПП;
  2. Техника локализации электролитов с недопустимым током утечки без выпайки из схемы;
  3. Локализация КЗ на многослойных платах с использованием векторной технологии поиска.

Локализатор неисправностей SFL3500 (Совтест АТЕ)
Предназначен для упрощения процесса ремонта электронных узлов, печатных плат и рассчитан на широкий круг потребителей — от производителей электроники до сервисных центров и ремонтных мастерских. Применяемая в приборе технология позволяет находить неисправности на компонентном уровне в электронных модулях любой сложности и назначения – от бытовой техники до электроники специального назначения

Прибор имеет широкий диапазон частотных режимов и режимов тестирования, позволяющих достоверно оценить большое количество различных компонентов и одинаково безопасно подвергать тестированию полупроводниковые компоненты и микросхемы.

Ключевые особенности:
  • Локализация неисправностей на компонентном уровне без подачи питания методом аналогового сигнатурного анализа;
  • Тестирование многовыводных компонентов и элементов схемы через краевой разъем с помощью мультиплексора;
  • Обнаружение неисправных цифровых логических микросхем, конденсаторов, транзисторов, диодов, тиристорных модулей и сборок без их демонтажа из электронных модулей;
  • Программирование по эталонному модулю в режиме самообучения;
  • Распознавание типов SMD компонентов на платах и определение их номиналов.

Режимы работы:
  • Режим реального времени – прибор сравнивает два одинаковых устройства — эталонное и тестируемое, и результат тестирования выводится на монитор;
  • Полуавтоматический режим – прибор производит проверку проверяемого изделия по заданной программе тестирования. Оператор устанавливает пробники согласно командам программы, а сравнение сигнатур выполняется прибором автоматически;
  • Автоматический режим - предусматривает тестирование многовыводных компонентов и электронных модулей имеющих краевые разъемы.

Измеритель рефлектометрический Совтест  ИРС-35 (Совтест АТЕ)
Для контроля качества высокочастотных изделий в рамках программы импортозамещения компанией ООО «Совтест АТЕ» будет продемонстрирована собственная разработка: система контроля волнового сопротивления – измеритель рефлектометрический Совтест ИРС-35 . Данная тестовая система работает под русскоязычным программным обеспечением собственной разработки. Цена тестера в два раза дешевле зарубежных аналогов при одинаковых технических характеристиках. 

Оборудование для тестирования проводного монтажа представлено тестерами W434R (Совтест АТЕ). Данное оборудование предназначено для обнаружения и локализации дефектов проводного монтажа, жгутов и блоков коммутации, а также для функционального контроля изделий.

Тестер W434R является универсальным модульным решением, позволяющим подобрать оптимальную конфигурацию под любые требования к тестированию изделий. Тестер W434R разработан немецкой компанией WEETECH – мировым лидером в производстве тестового оборудования, в России производится компанией ООО «Совтест АТЕ». Оборудование внесено в реестр средств измерений, регистрационный номер 62931-15.

На стенде «Совтест АТЕ» будет представлено PXI шасси собственного производства с набором модулей производства MarvinTest, Pickering, ADLINK, Teradyne для функционального и параметрического контроля изделий РЭА. 

Решение для входного и функционального контроля на выставке будет  представлено тестерами собственного производства FT-17DT и FT-17MINI.
Тестер микросхем FT-17DT имеет удобный эргономичный дизайн, что делает его лучшим решением для потребителей, которые занимаются сертификационными испытаниями микросхем или применяют у себя на предприятии входной контроль небольших партий компонентов. Uлавное преимущество системы FT-17DT заключается в том, что это продукт исключительно российской разработки: от электроники до корпуса. Программное обеспечение тестера – XperTest – также является результатом работы специалистов «Совтест АТЕ» и, что немаловажно, использует русский язык. 

Основные области применения: 
  • выходной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
  • входной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем на предприятиях-потребителях ЭКБ.
  • научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров микроэлектронных компонентов и систем, сертификационные испытания.Объекты контроля и измерений:
  • цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.)
  • запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов)
  • аналого-цифровые ИС (АЦП, ЦАП, системы на кристалле)
  • RFID (радиочастотные метки, смарт-карты) 
Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Стенды FT-17MINI представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов напряжения и тока, или сравнении выходных сигналов с заданными (ожидаемыми) сигналами.

Объекты контроля и измерений:
  • цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.);
  • запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов);
  • RFID (радиочастотные метки, смарт-карты).

Получите бесплатный билет на выставку «ExpoElectronica», предварительно пройдя онлайн-регистрацию по ссылке. Заполните предложенную форму, и на указанный Вами адрес электронной почты будет отправлен индивидуальный пригласительный билет, который необходимо обменять на бейдж посетителя при входе на выставку.

МЕСТО ПРОВЕДЕНИЯ:

Адрес: Московская область, Красногорский район, г. Красногорск, ул. Международная, д. 20. МВЦ «Крокус Экспо», 3 павильон, 12 и 13 залах

Отправить запрос