Основу аппаратной части объектов практически в любой отрасли промышленности составляет электронная компонентная база (ЭКБ). С повышением уровня сложности производимых изделий растет и уровень ответственности каждого компонента радиоэлектронной аппаратуры (РЭА). Следовательно, при сборке допустимой является только 100% исправность комплектующих. Ведь повреждение или некачественное исполнение одного компонента может повлечь за собой выход из строя другого компонента, узла, а возможно, и всего комплекса в целом, что приводит порой к катастрофическим последствиям и многомиллионным потерям. В связи с этим, тема входного контроля и испытаний компонентной базы на сегодняшний день является, пожалуй, одной из наиболее актуальных в электронной индустрии.
За 27 лет работы предприятие «Совтест АТЕ», основным направлением деятельности которого были и остаются тестовые системы и технологии в этой области, накопило существенный опыт в этой сфере, наладило собственное производство тестового и контрольно-измерительного оборудования, а также установило партнерские связи с ведущими мировыми производителями. Наше предприятие активно сотрудничает с зарубежными и российскими испытательными центрами, а также российскими производителями ЭКБ.
Предстоящая конференция – это возможность обсудить вопросы, связанные с повышением уровня надежности современной электронной компонентной базы, а также рассмотреть существующие отечественные решения в области входного контроля и испытаний ЭКБ.
Ключевые темы конференции:
- Обзор предлагаемых ООО «Совтест АТЕ» решений в области входного контроля и испытаний ЭКБ;
- Обзор программного обеспечения «XpertTest», предназначенного для разработки тестовых программ контроля параметров микросхем;
- Автоматизация решений входного контроля ЭКБ. Интеграция тестовых систем роботизированными сортировщиками;
- Особенности проектирования и разработки тестовых решений для контроля параметров ЭКБ;
- Использование мобильных систем термостатирования при решении задач входного контроля;
- Принципы построения комплексов электротермотренировки (ЭТТ), обзор решений.
В рамках конференции состоится демонстрация оборудования, применяемого для входного/выходного контроля радиоэлектронных компонентов:
- Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT 17DT-256;
- Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT 17MINI;
- Система машинного зрения FT-Vision – выявление дефектных и контрафактных компонентов на этапе входного контроля (контроль маркировки, измерение геометрических размеров ЭКБ, определение сколов и царапин корпуса компонентов и т.п.);
- Локализатор неисправностей SFL1500 – бюджетное решение для входного контроля компонентов, основанное на методе аналого-сигнатурного анализа;
- Стереомикроскоп SMZ1270 и цифровой микроскоп Inspectis F30s для визуального контроля качества и бесконтактных измерений ЭКБ.
Эксперты конференции:
- Федор Крекотень – генеральный директор – главный конструктор ООО «Совтест Микро»
- Роман Малышев – главный конструктор ООО «Совтест АТЕ»
- Артем Данилин – разработчик программного обеспечения «XpertTest»
- Андрей Ивахин – ведущий инженер и эксперт Центра технологий неразрушающего контроля
Начало работы конференции – 10:00.
Регистрация участников – с 09:00 до 10:00.