Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

24-05
2013
«Совтест АТЕ» - лучший в Европе дистрибьютор рентгеновских систем фирмы Nikon Metrology

В мае 2013 года в Штутгарте (Германия) состоялся ежегодный семинар дистрибьюторов компании Nikon Metrology, в рамках которого были подведены итоги работы в прошедшем году. В результате «Совтест АТЕ», официальный представитель Nikon Metrology на территории России и стран СНГ, за самые высокие показатели продаж был признан «Лучшим дистрибьютором рентгеновских систем в Европе» и получил престижную награду Sales Award 2013.

 

Sales meeting фирмы Nikon Metrology традиционно начался с обсуждения результатов деятельности компании в 2012 году, в ходе которого были представлены основные показатели продаж и отмечен их стабильный рост по сравнению с 2011 годом. Весомый вклад в этот процесс внесли и специалисты «Совтест АТЕ», благодаря чему компания была удостоена звания лучшего дистрибьютора рентгеновских систем в Европе. Однако, согласно предварительному прогнозу,  в этом году Nikon Metrology планирует добиться еще более высоких результатов, в  первую очередь за счет выпуска новых моделей оборудования с расширенными возможностями  по всем направлениям.

Так, в ходе семинара дистрибьюторов был анонсирован выход на рынок следующих продуктов:
1.    Бюджетная рентгеноскопическая система XT V 130 C с новым корпусом, аналогичным XT V 160, и возможностью дооснащения различными опциями, в т.ч. компьютерной томографии. Для всех рентгеноскопических систем специалистами Nikon была разработана новая версия программного обеспечения Inspectx 4.0 с еще более функциональным и удобным в использовании интерфейсом.
2.    Метрологическая система MCT225 HA (вторая в серии метрологических томографических систем MCT) для промышленной томографии, ее отличительные собенности: быстродействие (при исследовании одной и той же детали затрачивается на 84% меньше времени по сравнению с измерительными микроскопами), микрофокусная трубка, точный манипулятор, детектор с высоким разрешением и новый дизайн кабинета. Максимальная ошибка измерений составляет 3,8+L/50 мкм, где L – диаметр объекта. Для сравнения: аналогичный показатель модели MCT225 равен 9+L/50 мкм. Также был обновлен дизайн моделей XT H 225/320 LC и  XT H 450.
3.    Видеоизмерительная система Nexiv VMZ-R4540, главное преимущество которой – новый лазерный автоматический фокус, разработаный специально для контроля полупроводниковой продукции. В  системе используются энкодеры нового поколения, что позволяет повысить точность измерения до 1,2 мкм, а также предусмотрена возможность доукомплектации камерами более высокого разрешения (1024x768).
4.    Стереоскопические микроскопы SMZ18 и SMZ25, последний из которых обладает коэффициентом увеленичения – 25:1 (!). Благодаря данному показателю, теперь флагманом серии  SMZ от Nikon является модель SMZ25, а сама компания занимает первое место в мире, обладая стереомикроскопом с самым большим коэффициентом увеличения. SMZ25 также имеет моторизированный привод оси Z и револьвер на 3 объектива.
5.    Оптические профилометры BW-D50X и BW-A50X, ключевым отличием которых является разрешение по оси Z – 1 пикометр (теоретическое), сертифицированное значение разрешения по оси Z – 8,9 нанометров.  Базой для профилометров являются микроскопы Nikon, которые можно модернизировать до полноценных профилометров.

Позднее, в рамках стенда Nikon Metrology на международной выставке по обеспечению качества Control 2013 состоялась презентация данных решений для потребителей. Экспозиция компании включала практически все новые модели оборудования, которые тут же привлекли внимание посетителей и стали активно использоваться ими для исследования образцов своих изделий. Данной возможностью также воспользовались представители делегации «Совтест АТЕ», проведя пробные измерения образцов изделий заказчиков с помощью лазерного сканера и рентгеноской томографической системы XT Н 225 и инспекцию с использованием видеоизмерительной системы Nexiv VMZ-R4540 и оптического профилометра.

Новые решения специалистов Nikon Metrology, способные в несколько раз быстрее и точнее решать задачи по контролю качества изделий, уже сейчас доступны для российских потребителей.

Более подробную информацию о заинтересовавшей вас модели оборудования Вы можете получить, отправив «Совтест АТЕ» – официальному представителю Nikon Metrology в России – запрос по электронной почте info@sovtest.ru.

Знаете ли Вы?

Один пикометр (пм) равен одной триллионной части метра (10-12) или одной сотой ангстрема. Для примера: диаметр атома –  от 50 пм до 200 пм, расстояние между атомами в молекулах и твердых телах: от 100 пм до 300 пм.

 

Отправить запрос