Инженеры фирмы Seica (Италия) объединили две наиболее важные характеристики – высокое быстродействие и прецизионную точность – в адаптерных тестовых системах типа «bed of nails» серии Compact, представив оптимальное решение для 100% контроля качества на крупно- и среднесерийном производстве. Тестеры данной серии были разработаны с учетом преимуществ и недостатков моделей предыдущего поколения и в зависимости от потребностей заказчика позволяют выбрать необходимую конфигурацию тестера: внутрисхемное, функциональное тестирование или встраиваемое в линию полностью автоматизированное решение.
Максимальная производительность и высокая пропускная способность – порядка 2000-4000 изделий в день (в зависимости от тестопригодности и тестового покрытия) – обеспечивается за счет метода адаптерного контроля. При наличии соответствующих тестовых адаптеров и тестовых головок, которые в том числе могут быть изготовлены на базе производства «Совтест АТЕ», оператору необходимо лишь только запустить программу тестирования. Таким образом, достигается малое время тестирования, что позволяет относительно быстро проконтролировать большую партию печатных плат. Увеличить производительность можно за счет последовательного объединения тестовых систем (например, как на рисунке ниже) с последующей оптимизацией программного обеспечения.
Серия Compact разработана с учетом рекомендации WСM*, благодаря чему детально проработанная эргономика в сочетании с современными технологиями позволили совместить высокую гибкость, точность измерений и пропускную способность в малогабаритном корпусе с экономичным энергопотреблением. Серия Compact включает следующие модели тестовых систем:
• Compact TK – оптимальное решение для задач внутрисхемного тестирования и программирования.
• Compact MULTI – решение для внутрисхемного и функционального тестирования, где требуется интеграция внешних инструментов в тестовых программах изделий.
• Compact SL – полностью автоматизированное решение для функционального, внутрисхемного и комбинированного тестирования в составе высокопроизводительной сборочной линии.
Основу систем составляет инструментальный модуль ACL, разработанный специально для решения задач внутрисхемного и функционального тестирования. Его архитектура построена на базе технологии DSP, где для каждого синтезируемого инструмента используется независимые цифро-аналоговые и аналого-цифровые преобразователи. Все системы могут быть сконфигурированы на выполнение многозадачных тестов от 2 до 4 изделий (возможно параллельное тестирование 4-х изделий). Все тестовые системы поддерживают различные дополнительные опции, включая «Внутрисхемное программирование», «Высоковольтное тестирование», «Периферийное сканирование», Quick Test, метод Openfix т.д.
Как и все тестеры фирмы Seica, серия Compact работает под управлением уникального программного обеспечения VIVA, разработанного в результате многолетних исследований. Среди важных преимуществ ПО – интуитивно понятный интерфейс, гибкость и большой набор режимов управления инструментами, автоматическая генерация тестовых программ, а также возможность диагностики и сохранения результатов. Кроме того, благодаря современной платформе VIP, программы, разработанные на разных тестерах полностью совместимы с любою тестовой системой фирмы Seica (к примеру, тестовые программы разработанные на системах Pilot без труда можно транслировать на любые тестера серии Compact). Это позволяет оптимизировать процесс тестирования согласно объему выпускаемой продукции, пропускной способности сборочной линии и требованиям к тестовому оборудованию.
Знаете ли Вы?
*Концепция «Производство мирового класса» (World Class Manufacturing, WCM) зародилась в Японии в 70-е годы и изначально была известна как комплексная система обеспечения всеобщего обслуживания оборудования (TPM). В основе WCM лежат 2 основных принципа: постоянное совершенствование и устранение потерь.