Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

18-01
2017
Входной контроль ИМС - изготовление тестовой оснастки

Компания «Совтест АТЕ» является официальным дистрибьютором фирмы Teradyne (США) и поставляет тестовые системы этой фирмы на отечественные предприятия радиоэлектронной промышленности. Тестовые системы Teradyne предназначены для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции (от микроконтроллеров до интегральных схем специального назначения) и применяются на всех этапах жизненного цикла изделия, начиная от разработки ИМС и заканчивая сертификационными испытаниями.

Неотъемлемой частью тестовой системы является измерительная оснастка, которая проектируется и изготавливается под каждое подлежащее контролю изделие. Поэтому параллельно с поставкой тестовых систем специалисты «Совтест АТЕ» занимаются и изготовлением специализированной оснастки любой сложности для всей линейки тестеров Teradyne в любом температурном диапазоне.

 2-хместная DIB

Так, например, разработанная нами 2-хместная DIB (Device interface board) для ПЛИС 5576ХС1Т (российский аналог EPF10K50 фирмы Altera) позволила вдвое сократить время тестирования партии микросхем 5576ХС1Т при их производстве.

Тестовые решения на базе оборудования компании Teradyne внедрены на многих предприятиях, среди которых:

  • ОАО «ВЗПП-С», г. Воронеж; 
  • ОАО «КТЦ ЭЛЕКТРОНИКА», г. Воронеж; 
  • АО «НИИЭТ», г. Воронеж;
  • АО «Концерн «Моринформсистема – АГАТ», г. Москва; 
  • АО «КБ НАВИС», г. Москва; 
  • АО «РНИИ «Электронстандарт», г. Санкт-Петербург; 
  • ФГУП «ЦНИИХМ», г. Москва; 
  • ООО «Петроинтрейд», г. Санкт-Петербург; 
  • АО «Калугаприбор», г. Калуга. 

ПЛИС 5576ХС1Т Тестер J750 (Teradyne) 

Область применения тестовых решений:

  • Выходной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях. 
  • Входной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем на предприятиях-потребителях ЭКБ. 
  • Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров микроэлектронных компонентов и систем, сертификационные испытания.


 Тестовая оснастка для микропроцессора 


Знаете ли Вы? 

Компания «Совтест АТЕ» разрабатывает измерительную оснастку не только для линейки тестеров Teradyne, но также для тестеров Verigy, Advantest и тестовых систем своей собственной разработки (FT-17HF, FT-17MINI, FT-17MINI-9U, FT-17DT, FT-17SC, FT-17R и др.) Адаптерные устройства для микросхем, реле и дискретных полупроводников позволяют быстро и качественно решать задачи тестирования на всех этапах их жизненного цикла. 
Подробную информацию Вы можете узнать у наших специалистов, направив официальный запрос с сайта.

Отправить запрос