В ЦВК «Экспоцентр» состоялась 11-я тематическая выставка-форум Control Days 2019. Вниманию посетителей выставки были представлены приборы и средства для проведения промышленных измерений и контроля качества, а также для метрологического обеспечения и автоматизации технологических процессов в промышленности.
Предприятие "Совтест АТЕ" участвовало в традиционной тематической секции Testing Days, посвященной промышленным испытаниям и тестированию с климатическими камерами, виброметрией и акустикой, тензометрией, регистрацией данных и многоканальными измерительными системами.
Испытательное оборудование на стенде «Совтест АТЕ» было представлено следущими позициями:
- Вибростенд TV 51120 TIRA
- Система управления ВС-301
- Климатическая камера DY110 C
- Электромеханический вибростенд IDEX BF-70UA-E
- Ручной поворотный стол 1310 Ideal Aerosmith
Из оборудования для тестирования и промышленных измерений на стенде были представлены:
1. Видеоизмерительная система iNexiv VMA-2520 (Nikon, Япония);
Отличительная особенность высокоточных автоматизированных мультисенсорных систем серии NEXIV заключается в том, что помимо оптического датчика они могут быть оборудованы контактными датчиками, благодаря чему преимущества различных методов измерения сочетаются в одной системе. По сути iNexiv VMA-2520 – это настольная координатно-измерительная машина (КИМ).
Также среди достоинств данной системы можно выделить наличие современной системы трансфокатора 10х, лазерной автофокусировки и современного программного обеспечения.
2. Цифровой микроскоп Inspectis F30s (Inspectis Optical Systems, Швеция).
Inspectis F30s позволяет получать изображения непревзойденного качества, высокой четкости и контраста, с большим увеличением. По сравнению с другими системами визуального контроля микроскопы Inspectis требуют минимального времени для инспекции образцов.
Ключевые особенности микроскопа Inspectis F30s:
Оптический зум 30:1 с быстрым автофокусом; - Разрешение Full HD 1080 пикселей, 60 кадров/сек.;
- Увеличение (на мониторе 27”): стандартно 2,2-62,7х; опционально до 170х;
- Простое управление камерой и объективом на панели микроскопа;
- Модульный дизайн с различными вариантами штативов и аксессуаров;
- Документирование результатов инспекции и измерений через программное обеспечение INSPECTIS.
3. Тестер микросхем FT-17DT-256 (Совтест АТЕ, Россия);
Стенд FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц.
FT-17DT представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов напряжения и тока, или сравнении выходных сигналов с заданными (ожидаемыми) сигналами.
Основной аппаратной частью стенда являются универсальные каналы, каждый из которых включает в себя генератор тестовой последовательности, драйвер (источник напряжения), компаратор напряжения, активную нагрузку, источник-измеритель статических параметров.
Кроме универсальных каналов, имеются дополнительные каналы источников-измерителей статических параметров с расширенными диапазонами напряжения и силы тока, и каналы измерительных источников питания.
4. Локализатор неисправностей SFL3500 (Совтест АТЕ, Россия);
Предназначен для упрощения процесса ремонта электронных узлов, печатных плат и рассчитан на широкий круг потребителей — от производителей электроники до сервисных центров и ремонтных мастерских. Применяемая в приборе технология позволяет находить неисправности на компонентном уровне в электронных модулях любой сложности и назначения.
Прибор позволяет оценить все типы элементов: аналоговые, цифровые, электромеханические и др., а наличие широкого диапазона частотных режимов и режимов тестирования, позволяет достоверно оценить большое количество различных компонентов и одинаково безопасно подвергать тестированию полупроводниковые компоненты и микросхемы.
