Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Оптические микроскопы

Свернуть Развернуть
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
Назначение:
  • Выявление дефектных и контрафактных электронных компонентов на этапе входного контроля.
  • Сокращение расходов на устранение дефекта конечного изделия.
  • Исключение человеческого фактора в принятии решения о качестве...
Видеомикроскоп Inspectis F30s обеспечивает изображения непревзойденного качества, высокой четкости и...
Основные преимущества F30s:
  • Оптический зум 30:1 с быстрым автофокусом 
  • Разрешение Full HD 1080 пикселей, 60 кадров/сек. для точной работы с большими увеличениями
  • Простое управление камерой и объективом на панели ...
Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры выс...
  • визуальная инспекция
  • контроль качества (электронных модулей, фотошаблонов, обработки металлов и т.п.)
  • диагностические и ремонтные работы
  • монтаж микрокомпонентов
  • криминалистический анализ
  • ...
Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.
Nikon
Новый растровый (сканирующий) электронный микроскоп - продукт совместной разработки двух хорошо известных производственных корпораций из Японии, а именно, известнейшего производителя оптических приборов Nikon и флагмана в электронной микроскопии - компании...
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держател...
Nikon
Основные характеристики стереомикроскопа SMZ1270i

Имея лучший в своем классе диапазон трансфокации - 12,7х (0,63х - 8х), микроскоп SMZ1270i отличается еще большим диапазоном увеличения, чем предыдущие модели. При минимальном увеличении поле...
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптически...
Nikon
Основные характеристики

Имея лучший в своем классе диапазон трансфокации - 12,7х (0,63х - 8х), стереомикроскоп SMZ1270 отличается еще большим диапазоном увеличения, чем предыдущие модели. При минимальном увеличении поле зрения доходит до 35...
480 000
Цена со скидкой, действительно до 31.12.2019
Товар в наличии на складе
Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах
Nikon

Назначение

Решение предназначено для контроля качества пайки электронных компонентов на печатных платах.

Описание

Основа решения - стереоскопический микроскоп серии SMZ фирмы Nikon (SMZ745T, SMZ800N), в сочетании с наклонно-поворотным столом...
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON
Nikon
КЛЮЧЕВЫЕ ОСОБЕННОСТИ
1. Использование линз Френеля1.
Линзы Френеля изготавливаются с использованием собственных оптических технологий фирмы Nikon. Данные линзы позволили уменьшить хроматические аберрации, которые ухудшают контрастность изображения....
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения ба...
Nikon
SMZ 25 и 18 произвели настоящую революцию в области стереомикроскопии, благодаря уникальному диапазону трансфокации, модульной конструкции, удобству эксплуатации и сверхпроизводительной оптике. Новые модели серии SMZ обладают широким набором функций,...
Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соо...
Nikon
В микроскопах для контроля качества пластин серии L300 используется знаменитая оптическая система CFI60 от Nikon, которая обеспечивает высокое разрешение, контраст и коэффициент пропускания. Яркость изображений была значительно улучшена по сравнению ...
В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный ми...
Nikon
Самостоятельно или в комбинации с загрузчиком пластин микроскопы серии L200 обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек. 

Выбор из 3-х моделей

...
Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclips...
Nikon
Прямые промышленные микроскопы  серии LV150 обеспечивают превосходную производительность при контроле качества полупроводников, плоских панелей, корпусов электронных/оптических устройств, электронных подложек, материалов, медицинских приборов и множества...

Оптические микроскопы

Одним из важнейших контрольно-измерительных инструментов на любом производстве является оптический микроскоп. Сегодня существует несколько видов микроскопов, которые различаются по принципу работы. Каждый имеет свои достоинства и сферы применения. 

Промышленный прямой микроскоп
Используется для работы с помощью разных методов наблюдения (при отраженном и проходящем свете).  Данный оптический микроскоп имеет высокую производительность, отвечает самым высоким требованиям наблюдения и контроля, применяется для анализа в самых разных областях промышленности.

Стереомикроскоп
Используется для того, чтобы получить трехмерное изображение. Это бывает необходимо для понимания структуры образца. Оптический микроскоп этого типа обычно используется для биологических исследований и для решения задач промышленной сборки.

Цифровой микроскоп
Оснащен цифровой камерой и встроенной подсветкой. Позволяет получать изображение высокого разрешения с увеличением до 400 крат. Оно сразу появляется на экране, где оператор может уже проводить анализ или необходимые измерения. Цифровой оптический микроскоп может работать как от сети, так и на батарейках (некоторые модели). 

Металлографический микроскоп
Используется для исследований структуры сплавов, образцов из металла (или других непрозрачных материалов). Этот оптический микроскоп применяется в аэрокосмической, автомобильной, электронной, медицинской и других областях производства. Часто имеет инвертированную оптическую систему, позволяющую вести наблюдения снизу.

Электронный микроскоп
Получает изображение с помощью потока электронов и магнитных или электростатических линз. Позволяет получать сильно увеличенные объекты. Разрешающая способность электронного микроскопа в 1000 – 10000 раз выше, чем у оптического.

Система машинного зрения
Используется для обнаружения различных дефектов. Это могут быть отклонения от геометрических параметров, неправильная маркировка, нечитаемость штрих- и QR- кодов, отсутствие компонента в сборке или его неправильное размещение.

Сегодня микроскоп, неважно оптический, электронный, цифровой или другой – это неотъемлемая часть большинства исследований. Благодаря его возможности в десятки раз увеличивать изображение объекта, мы получаем возможность детально изучить поверхность этого объекта и сделать выводы о нем. Без этого был бы невозможен качественный скачок во многих областях промышленности.

Отправить запрос