Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

19-03
2012
Итоги участия ООО «Совтест АТЕ» в выставке NDT-2012

В четыре раза больше посетителей по сравнению с прошлым годом – таковы результаты участия ООО «Совтест АТЕ» в 11-ой международной выставке и конференции «Неразрушающий контроль и техническая диагностика в промышленности-2012» (NDT). Подобная востребованность стенда компании была обусловлена следующими факторами: актуальность предложенных решений, демонстрация возможностей оборудования, бесплатные консультации экспертов в области неразрушающего контроля, а также качество и надежность продукции Nikon Metrology, которая и составила основу экспозиции «Совтест АТЕ».

Принимая участие в выставке NDT во второй раз и учитывая опыт прошлого года, специалисты «Совтест АТЕ» смогли добиться максимальной эффективности от мероприятия. На стенде компании были представлены передовые решения в области неразрушающего контроля по следующим направлениям:
• Микроскопия (цифровой микроскоп ShuttlePix, тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T);
• Промышленная рентгеноскопия и компьютерная томография (промышленные рентгеновские томографы серии XT H, рентгеноскопические системы серии XT V)
• Видеоизмерительный контроль (видеоизмерительная система iNexiv VMA2520)

Живой интерес посетителей NDT-2012 вызвала возможность непосредственно на стенде «Совтест АТЕ» провести исследование своих образцов с помощью современных микроскопов от ведущего зарубежного производителя оптического оборудования NIKON (Япония). При этом высокие технические характеристики цифрового микроскопа  ShuttlePix и тринокулярного стереомикроскопа SMZ-745T позволили провести исследование изделий практически из любых отраслей промышленности (Рис.1). В их число вошли металлообработка, машиностроение, микроэлектроника, материаловедение,  прикладные исследования и др., что в очередной раз подтверждает широкую сферу применения данного оборудования: от промышленных предприятий до научно-исследовательских лабораторий и институтов.

Рис.1 Примеры изображений, полученные во время исследования образцов посетителей выставки NDT-2012
 

Развитие партнерских отношений с Nikon Metrology позволило не только открыть отечественным потребителям доступ к современному и надежному оборудованию, но и предоставить возможность одновременно с зарубежными потребителями получать информацию о последних новинках в области неразрушающего контроля. Так, в ближайшее время на выставке «ЭкспоЭлектроника-2012», которая пройдет с 11 по 13 апреля в Москве, в МВЦ «Крокус Экспо», состоится демонстрация видеоизмерительной системы iNexiv VMA2520. На практике оценить преимущества данного оборудования Вы сможете, посетив экспозицию ООО «Совтест АТЕ» (Павильон 1, Зал 2, Стенд А05).

Отправить запрос