Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

08-04
2019
«Совтест АТЕ» на выставке Control Days. Moscow 2019

В ЦВК «Экспоцентр» состоялась 11-я тематическая выставка-форум Control Days 2019. Вниманию посетителей выставки были представлены приборы и средства для проведения промышленных измерений и контроля качества, а также для метрологического обеспечения и автоматизации технологических процессов в промышленности.

Предприятие "Совтест АТЕ" участвовало в традиционной тематической секции Testing Days, посвященной промышленным испытаниям и тестированию с климатическими камерами, виброметрией и акустикой, тензометрией, регистрацией данных и многоканальными измерительными системами.

Испытательное оборудование на стенде «Совтест АТЕ» было представлено следущими позициями:

  • Вибростенд TV 51120 TIRA
  • Система управления ВС-301
  • Климатическая камера DY110 C
  • Электромеханический вибростенд IDEX BF-70UA-E
  • Ручной поворотный стол 1310 Ideal Aerosmith

Из оборудования для тестирования и промышленных измерений на стенде были представлены: 

1. Видеоизмерительная система iNexiv VMA-2520 (Nikon, Япония);

Отличительная особенность высокоточных автоматизированных мультисенсорных систем серии NEXIV заключается в том, что помимо оптического датчика они могут быть оборудованы контактными датчиками, благодаря чему преимущества различных методов измерения сочетаются в одной системе. По сути iNexiv VMA-2520 – это настольная координатно-измерительная машина (КИМ). 

Также среди достоинств данной системы можно выделить наличие современной системы трансфокатора 10х, лазерной автофокусировки и современного программного обеспечения.

2. Цифровой микроскоп Inspectis F30s (Inspectis Optical Systems, Швеция).

Inspectis F30s позволяет получать изображения непревзойденного качества, высокой четкости и контраста, с большим увеличением. По сравнению с другими системами визуального контроля микроскопы Inspectis требуют минимального времени для инспекции образцов. 

Ключевые особенности микроскопа Inspectis F30s:

  • Оптический зум 30:1 с быстрым автофокусом; 
  • Разрешение Full HD 1080 пикселей, 60 кадров/сек.;
  • Увеличение (на мониторе 27”): стандартно 2,2-62,7х; опционально до 170х;
  • Простое управление камерой и объективом на панели микроскопа;
  • Модульный  дизайн с различными вариантами штативов и аксессуаров;
  • Документирование результатов инспекции и измерений через программное обеспечение INSPECTIS.

3. Тестер микросхем FT-17DT-256  (Совтест АТЕ, Россия);

Стенд FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц. 

FT-17DT представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов напряжения и тока, или сравнении выходных сигналов с заданными (ожидаемыми) сигналами.

Основной аппаратной частью стенда являются универсальные каналы, каждый из которых включает в себя генератор тестовой последовательности, драйвер (источник напряжения), компаратор напряжения, активную нагрузку, источник-измеритель статических параметров.

 Кроме универсальных каналов, имеются дополнительные каналы источников-измерителей статических параметров с расширенными диапазонами напряжения и силы тока, и каналы измерительных источников питания.

4. Локализатор неисправностей SFL3500 (Совтест АТЕ, Россия); 

Предназначен для упрощения процесса ремонта электронных узлов, печатных плат и рассчитан на широкий круг потребителей — от производителей электроники до сервисных центров и ремонтных мастерских. Применяемая в приборе технология позволяет находить неисправности на компонентном уровне в электронных модулях любой сложности и назначения – от бытовой техники до электроники специального назначения

Прибор позволяет оценить все типы элементов: аналоговые, цифровые,  электромеханические и др., а наличие широкого диапазона частотных режимов и режимов тестирования, позволяет достоверно оценить большое количество различных компонентов и одинаково безопасно подвергать тестированию полупроводниковые компоненты и микросхемы.

Отправить запрос