- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Тестеры печатных плат (ПП/МПП)
- AOI
- Рентгеноскопические системы
- Многофункциональные тестеры с подвижными пробниками (MDA, ICT, FT, AOI, BoundaryScan, Thermoscan, Reverse Engineering)
- Электрический контроль
Свернуть
Развернуть
Тестеры микросхем производства компании Teradyne, США предназначены для функционального и параметрич...
Teradyne
Измерительная часть тестеров микросхем фирмы Teradyne, их гибкость и универсальность предоставляют пользователю все возможности для проведения тестирования сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции (VLSI), начиная от микроконтроллеров до ...
Зондовые установки применяются в производстве микроэлектроники и предназначены для автоматического п...
Accretech
Отличительные особенности
- Высокая точность позиционирования благодаря механизму 4-х осевого фиксирования
- Система автоматической фронтальной загрузки пластин
Опции
- Дополнительный...
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем DA-48/DM-48, EDA Industries предназначены для...
EDA Industries
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем DA-48/DM-48 состоит из двух камер, по 24 слота для кассет в каждой.
Модули для задания электрических режимов комплекса устанавливаются в направляющие (слоты) на задней стенке камеры...
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем QA-48/QM-48, EDA Industries предназначены для...
EDA Industries
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем QA-48/QM-48 состоит из четырех камеры, внутри установлено 12 слотов для кассет.
Модули для задания электрических режимов комплекса устанавливаются в направляющие (слоты) на задней стенке камеры...
Зондовые установки применяются в производстве микроэлектроники и предназначены для автоматического п...
Accretech
Отличительные особенности:
- Возможность тестирования пластин 5”, 6”, 8” (4” опционально)/ 130 мм, 150 мм, 200 мм (100 мм опционально)
- Большое количество доступных опций позволяет тестировать все нестандартные пластины, которые...
Испытательный стенд термоэлектротренировки FTT-17 предназначен для испытаний интегральных микросхем ...
Sovtest (Россия)
Отличительные особенности:
- Максимальное количество слотов для кассет – 25.
- До 5-ти независимых источников питания на слот.
- Задание электрических режимов при помощи модулей DIO6420 (опционально)
...
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем DA-24/DM-24, EDA Industries предназначены для...
EDA Industries
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем DA-24/DM-24 состоит из двух камер, по 12 слотов для кассет в каждой.
Модули для задания электрических режимов комплекса устанавливаются в направляющие (слоты) на задней стенке ...
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем SA-24/SM-24, EDA Industries предназначены для...
EDA Industries
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем SA-24/SM-24 состоит из одной камеры, внутри установлено 24 слота для кассет.
Модули для задания электрических режимов комплекса устанавливаются в направляющие (слоты) на задней стенке...
Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной...
Teradyne
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы,...
Система MicroFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной...
Teradyne
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы,...
Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со...
Teradyne
Принцип действия системы J750Ex-HD основан на методах функционального и параметрического контроля.
Для проведения функционального контроля на измеряемую микросхему подается входной набор сигналов, при этом выходной набор сигналов от объекта контроля...
Стенд FT-17HF предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-ана...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17HF представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Линейка тестового оборудования для микроэлектроники предназначена для контроля качества цифровых микросхем, аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей, реле, полупроводниковых, микроэлектромеханических (МЭМС) и других компонентов.
Эти универсальные контрольно-измерительные системы позволяют проводить тестирование как при нормальных условиях окружающей среды, так и при условии воздействия различных климатических факторов.