- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Свернуть
Развернуть
Электротермотренировка (ЭТТ) – это общепризнанный как...
Электротермотренировка (ЭТТ) – это общепризнанный как в России, так и за рубежом наиболее эффективный метод отбраковочных испытаний изделий...
Стенд измерительный FT-17HF-768 предназначен для параметри...
Стенд FT-17HF-768 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, которая...
Стенд измерительный FT-17MINI-9U предназначен для контроля ...
Стенд FT-17MINI-9U представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который...
Стенд измерительный FT-17MINI предназначен для контроля и ...
Стенды FT-17MINI представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который...
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Назначение:
- Выявление дефектных и контрафактных электронных компонентов на этапе входного контроля.
- Сокращение расходов на...
Микроэлектромеханические системы (МЭМС) – небольшие у...
Различные типы МЭМС требуют контроля параметров при различных физических воздействиях, воздействий температур и прочих условиях, определяющих...
Манипуляторы предназначены для подключения к система...
Манипуляторы совместимы с такими тестовыми системами как Sovtest FT17HF, Verigy и др.
Область применения:
Область применения:
- Приемо-сдаточные испытания...
Перемещение компонентов происходит путем перемещения...
Конструктивные особенности:
- Перемещение компонентов происходит путем перемещения захватов ( плунжеров) по кругу турели, перекладывая...
Сортировщик Pick and Place для тестирования ЭКБ
Манипуляторы предназначены для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий микроэлектроники ...
Зондовая установка предназначена для реализации авто...
Зондовая установка предназначена для работы со стандартными полупроводниковыми пластинами диаметром , 6 ̋ ,8 ̋ и 12 ̋.
...
Зондовая установка предназначена для реализации авто...
Зондовая установка предназначена для работы со стандартными полупроводниковыми пластинами диаметром 4 ̋, 5 ̋ , 6 ̋ и 8 ̋.
Зондовая установка...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIP8...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIPS,SOP4 и SOP6L с опцией нагрева предназначен для подключения к системам электротестирования...
Линейка тестового оборудования для микроэлектроники предназначена для контроля качества цифровых микросхем, аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей, реле, полупроводниковых, микроэлектромеханических (МЭМС) и других компонентов.
Эти универсальные контрольно-измерительные системы позволяют проводить тестирование как при нормальных условиях окружающей среды, так и при условии воздействия различных климатических факторов.
Мы используем куки для улучшения работы этого сайта
Продолжая просмотр сайта, вы соглашаетесь с политикой обработки персональных данных и cookie-файлов