- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Автоматическая оптическая инспекция (AOИ)
- Рентгеноскопические системы
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
- Электрический контроль
Свернуть
Развернуть
Испытательный стенд термоэлектротренировки FTT-17 предназначен для испытаний интегральных микросхем ...
Sovtest (Россия)
Отличительные особенности:
- Максимальное количество слотов для кассет – 25.
- До 5-ти независимых источников питания на слот.
- Задание электрических режимов при помощи модулей DIO6420 (опционально)
...
Стенд FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифров...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17HF-768 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, которая осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифров...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17DT-256 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд FT-17MINI-9U предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифр...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17MINI-9U представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-а...
Sovtest (Россия)
Стенды FT-17MINI представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Тестеры микросхем производства компании Teradyne, США предназначены для функционального и параметрич...
Teradyne
Измерительная часть тестеров микросхем фирмы Teradyne, их гибкость и универсальность предоставляют пользователю все возможности для проведения тестирования сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции (VLSI), начиная от микроконтроллеров до ...
Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной...
Teradyne
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы,...
Комплексы для проведения электротермотренировки изделий микроэлектроники в соответствии с требовани...
EDA Industries
Комплексы могут быть применены как в условиях серийного производства, на этапах изготовления изделий, так и на входном контроле, предприятий, использующих изделия микроэлектроники, а также предприятий, занимающихся сертификационными испытаниями компонентов....
Система MicroFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной...
Teradyne
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы,...
Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со...
Teradyne
Принцип действия системы J750Ex-HD основан на методах функционального и параметрического контроля.
Для проведения функционального контроля на измеряемую микросхему подается входной набор сигналов, при этом выходной набор сигналов от объекта контроля...
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
Назначение:
- Выявление дефектных и контрафактных электронных компонентов на этапе входного контроля.
- Сокращение расходов на устранение дефекта конечного изделия.
- Исключение человеческого фактора в принятии решения о качестве...
Микроэлектромеханические системы (МЭМС) – небольшие устройства, объединенные с полупроводниковыми пр...
Sovtest (Россия)
Различные типы МЭМС требуют контроля параметров при различных физических воздействиях, воздействий температур и прочих условиях, определяющих функциональность устройства. Обычно для достижения надежной и точной проверки устройства требуется тщательный...
Линейка тестового оборудования для микроэлектроники предназначена для контроля качества цифровых микросхем, аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей, реле, полупроводниковых, микроэлектромеханических (МЭМС) и других компонентов.
Эти универсальные контрольно-измерительные системы позволяют проводить тестирование как при нормальных условиях окружающей среды, так и при условии воздействия различных климатических факторов.